凱特廣州代理，KETT LE-200J電磁膜厚計，膜厚計 LE-200J

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ポータブルタイプのプリンタ內蔵型膜厚計です。磁性金屬上に施されたメッキ（電解ニッケルメッキは除く）?塗裝?ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定。さらに、測定結果をその場でプリントアウトできます。
●仕様 LE-200J 測定方式電磁誘導式測定対象磁性金屬上の非磁性被膜測定範囲 0～1500μmまたは60.00mils 測定精度 15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％分解能 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm 適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 統計機能測定回數?平均値?標準偏差?最大値?最小値?ブロック番號プローブ一點接觸定圧式（LEP-J）表示方法デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm）外部出力 RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）電源 AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ）本體部×6、プリンタ部×4 寸法?質量 120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg 付屬品標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケースオプション L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」（McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。）

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網址：www.cinhuanet.com.cn 或www.fujino.net.cn

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